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                          什么是長期壽命試驗
1.長期儲存壽命試驗
我們把電子產品在規(guī)定的環(huán)境條件下非工作狀態(tài)的存放試驗稱為儲存壽命試驗。儲存 壽命試驗周期在1000小時以上者稱為長期儲存壽命試驗。如半導體三極管總技術條件中規(guī) 定，每種型號的半導體三極管，每年應取一定數量的管子,存放在一 10X：?40X：,相對濕度 不大于80%的干燥通風且無腐蝕性氣體的倉庫內。*年內每季度,以后每半年全面測量 一次電參數，并觀察表面。儲存3?5年后整理書面資料，供提髙產品質量時參考。
長期儲存壽命試驗的目的是要了解產品在特定環(huán)境下儲存的可靠性。元器件裝配成 整機前，可能要儲存數年或更長的時間。在這么長的時間內，這些元器件能不能保持其原 有特性指標?這些元器件參數的變化規(guī)律如何?失效機理是什么,等等，這些都需要通過儲 存壽命試驗來回答。
長期儲存壽命試驗方法較簡單，只需要將樣品存放在一定的環(huán)境條件下,定期地進行 測試分析就行。但儲存試驗由于樣品處于非工作狀態(tài),失效率比較低，通常要抽出比較多 的樣品進行長期的試驗，周期一般長達35年。
長期儲存壽命試驗所積累的數據對于預測元器件和整機的儲存可靠性很有價值。通過元器件儲存試驗獲得的數據可幫 助預測試品儲存壽命。因此,元器件生產單位應該有計劃有目的地對所生產的元器件 進行長期儲存試驗，這不但有利于評價和改進元器件質量，也有助于整機單位合理選用元 器件及做好整機的可靠性預測工作。